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深能級瞬態譜儀1半導體領域研究和檢測半導體雜質、缺陷深能級、界面態等的重要技術手段。根據半導體P-N 結、金－半接觸結構肖特基結的瞬態電容（△C～t）技術和深能級瞬態譜（DLTS）的發射率窗技術測量出的深能級瞬態譜

開爾文探針掃描（Kelvin Probe）是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數（Work Function）或半導體、絕緣表面的表面勢（Surface Potential）。材料表面的功函數通常由Z上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種Z靈敏的表面分析技術。

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多種薄膜沉積設備，PECVD、ALD、PLD、MBE、磁控濺射、電子束蒸發、熱蒸發等。詳細介紹請登陸公司網頁。http://www.cross-tech.com.cn/

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勻膠機，旋涂儀其工作原理是高速旋轉基片, 利用離心力使滴在基片上的膠液均勻的涂在基片上, 厚度視不同膠液和基片間的粘滯系數而不同, 也和旋轉速度及時間有關。