飛行時間二次離子質譜1是一種非常靈敏的表面分析技術?？梢詮V泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素，分子等結構信息。

質子轉移反應飛行時間質譜儀同時還可應用真正的渦度相關法（eddy-covariance）技術，擴展到對構成和誘導生物揮發性有機化合物（VOCs）進行生態系統通量測試。

飛行時間二次離子質譜 是一種非常靈敏的表面分析技術?？梢詮V泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素，分子等結構信息。