飛行時間二次離子質譜1是一種非常靈敏的表面分析技術??梢詮V泛應用于物理,化學,微電子,生物,制藥,空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結構信息。
質子轉移反應飛行時間質譜儀同時還可應用真正的渦度相關法(eddy-covariance)技術,擴展到對構成和誘導生物揮發性有機化合物(VOCs)進行生態系統通量測試。
飛行時間二次離子質譜 是一種非常靈敏的表面分析技術??梢詮V泛應用于物理,化學,微電子,生物,制藥,空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結構信息。